Agência FAPESP – O Programa de Pós-Graduação do Instituto de Física (IF) da Universidade de São Paulo (USP) oferecerá, entre os meses de março e junho, o curso Microscopia de Força Atômica e Tunelamento.
O curso é aberto para qualquer pessoa que tenha uma graduação nas áreas de exatas ou biomédicas ou que esteja cursando o 3º ou 4º ano de graduação nessas áreas. A carga horária é de 2h de aulas teóricas somadas a 2h de aulas de laboratório por semana.
São, ao todo, 12 vagas. Os alunos da USP devem se matricular como alunos regulares entre 18 e 31 de janeiro pelo . Aos alunos especiais estão reservadas as datas entre os dias 1º e 5 de fevereiro para a realização da matrícula na secretaria de Pós-Graduação do IFUSP.
A microscopia de força atômica (AFM) não envolve lentes e pressupõe diferentes modos de operação para obtenção de imagens. Na AFM de contato, por exemplo, uma sonda interage com a superfície, realizando uma varredura, como um scanner, e gerando ponto a ponto as coordenadas x, y e z. Por meio de um software, a técnica possibilita a reconstrução de uma superfície em 3D, podendo chegar à resolução atômica. As duas técnicas são utilizadas para caracterizar morfologicamente materiais, com precisão em escala micro, nano ou subnano.
Ao final do curso, os participantes estarão aptos a interpretar corretamente imagens obtidas por meio dessas técnicas, em diversos modos de operação; avaliar a adequação das técnicas para caracterização de amostras e, propriamente, fazer uso das técnicas, levando em conta que o Laboratório de Filmes Finos presta serviços oferecendo esse tipo de caracterização para diversos usuários.
Mais informações sobre as matrículas podem ser obtidas na Secretaria do Programa de Pós-Graduação, à rua do Matão, nº 1.371, Cidade Universitária, São Paulo, pelo telefone 11 3091 6901 ou pelo e-mail [email protected].